A63.7069 Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten, Std. SEM, 6x~60000x

A63.7069 Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Std. SEM, 6x~600000x Featured Image

Deskripsi Singkat:

6x~60000x Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten, Std. SEM
LaB6 yang Dapat Diupgrade, Detektor X-Ray, EBSD, CL, WDS, Mesin Pelapis Dan Lain-Lain
Multi Modifikasi EBL, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, Tensile Stage, SEM+Laser Dan Dll.
Kalibrasi Otomatis, Deteksi Kerusakan Otomatis, Biaya Perawatan & Perbaikan Rendah
Antarmuka Pengoperasian yang Mudah & Ramah, Semua Dikendalikan Oleh Mouse Di Sistem Windows
Jumlah Pesanan Minimum:1

Rincian produk

Tag Produk

A63.7069_01.jpg

Deskripsi Produk

A63.7069 Filamen Tungsten Pemindaian Mikroskop Elektron, Std. SEM
Resolusi		3nm@30KV(SE); 6nm @ 30KV (BSE)
Pembesaran		Pembesaran Negatif: 6x~300000x; Pembesaran Layar: 12x~60000x
Senjata Elektron		Kartrid Filamen Tungsten Terpusat Katoda Dipanaskan Tungsten
Mempercepat Tegangan		0~30KV
Sistem Lensa		Lensa Elektromagnetik Tiga Tingkat (Lensa Runcing)
Bukaan Objektif		Sistem Vakum Luar Molibdenum Aperture yang Dapat Disesuaikan
Tahap Spesimen		Panggung Lima Sumbu
Jangkauan Perjalanan	X (Otomatis)	0~80mm
	Y (Otomatis)	0~60mm
	Z (Manual)	0~50mm
	R (Manual)	360
	T (Manual)	-5º~90º
Diameter Spesimen Maks		175mm
Detektor		SE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor)
		BSE: Detektor Hamburan Belakang Semikonduktor Empat Segmentasi
		CCD
Modifikasi		Peningkatan Panggung; EBL; STM; AFM; Panggung Pemanasan; Panggung Cryo; Panggung Tarik; Manipulator Mikro-nano; SEM + Mesin Pelapis; SEM + Laser
Aksesoris		CCD,LaB6,X-Ray Detector (EDS),EBSD,CL,WDS,Mesin Pelapis
Sistem Vakum		Pompa Molekul Turbo;Pompa Rotasi
Arus Berkas Elektron		10pA~0.1μA
PC		Stasiun Kerja Dell yang Disesuaikan

Keuntungan dan Kasus

Scanning electron microscopy (sem) cocok untuk pengamatan topografi permukaan logam, keramik, semikonduktor, mineral, biologi, polimer, komposit dan material satu dimensi, dua dimensi dan tiga dimensi skala nano (gambar elektron sekunder, gambar elektron backscattered). Dapat digunakan untuk menganalisis komponen titik, garis dan permukaan mikroregion. Ini banyak digunakan dalam minyak bumi, geologi, bidang mineral, elektronik, bidang semikonduktor, kedokteran, bidang biologi, industri kimia, bidang bahan polimer, penyidikan tindak pidana keamanan umum, pertanian, kehutanan, dan bidang lainnya.

informasi perusahaan

OPTO-EDU, sebagai salah satu produsen dan pemasok mikroskop paling profesional di Cina, sub-merek CNOPTEC seri biologi kelas atas kami, laboratorium, polarisasi, metalurgi, mikroskop fluoresen, mikroskop forensik seri CNCOMPARISON, mikroskop SEM seri A63, dan .49 seri kamera digital, kamera LCD sangat populer di pasar dunia.