A63.7081 Schottky Field Emission Gun Pemindaian Mikroskop Elektron Pro FEG SEM, 15x~800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Deskripsi Singkat:

15x~800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope
Akselerasi E-Beam Dengan Pasokan Arus Balok Stabil Gambar Luar Biasa Di Bawah Tegangan Rendah
Sampel Non Konduksi Dapat Diamati Secara Langsung Tidak Perlu Tergagap Dalam Tegangan Rendah
Antarmuka Pengoperasian yang Mudah & Ramah, Semua Dikendalikan Oleh Mouse Di Sistem Windows
Ruang Sampel Besar Dengan Lima Sumbu Panggung Bermotor Eucentric Ukuran Besar, Spesimen Maks Dia.320mm
Pesanan minimal:1

Rincian produk

Tag Produk

A63.7081_01.jpg

Deskripsi Produk

A63.7081 Senapan Emisi Lapangan Schottky Pemindaian Mikroskop Elektron Pro FEG SEM
Resolusi		1nm@30KV(SE); 3nm@1KV(SE); 2.5nm @ 30KV (BSE)
Pembesaran		15x~800000x
Senjata Elektron		Senapan Elektron Emisi Schottky
Arus Berkas Elektron		10pA~0,3μA
Mempercepat Voatage		0~30KV
Sistem Vakum		2 Pompa Ion, Pompa Molekul Turbo, Pompa Mekanik
Detektor		SE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor)
		BSE: Detektor Hamburan Belakang Semikonduktor Empat Segmentasi
		CCD
Tahap Spesimen		Panggung Bermotor Eucentric Lima Sumbu
Jangkauan Perjalanan	X	0~150mm
	Y	0~150mm
	Z	0~60mm
	R	360
	T	-5º~75º
Diameter Spesimen Maks		320mm
Modifikasi		EBL;STM;AFM;Panggung Pemanasan;Panggung Cryo;Tahap Tarik;Manipulator Mikro-nano;SEM+Mesin Pelapisan;SEM+Laser Dll.
Aksesoris		Detektor Sinar-X (EDS), EBSD, CL, WDS, Mesin Pelapis Dll.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Keuntungan dan Kasus

Scanning electron microscopy (sem) cocok untuk pengamatan topografi permukaan logam, keramik, semikonduktor, mineral, biologi, polimer, komposit dan material satu dimensi, dua dimensi dan tiga dimensi skala nano (gambar elektron sekunder, gambar elektron backscattered). Dapat digunakan untuk menganalisis komponen titik, garis dan permukaan mikroregion. Ini banyak digunakan dalam minyak bumi, geologi, bidang mineral, elektronik, bidang semikonduktor, kedokteran, bidang biologi, industri kimia, bidang bahan polimer, penyidikan tindak pidana keamanan umum, pertanian, kehutanan, dan bidang lainnya.