Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten, Eco. SEM, 15x~250000x

A63.7062

Mikroskop Elektron Pemindaian Filamen Tungsten 15x~25000x, Std. SEM

LaB6 yang Dapat Diupgrade, Detektor X-Ray, EBSD, CL, WDS, Mesin Pelapis Dan Lain-Lain

Multi Modifikasi EBL, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, Tensile Stage, SEM+Laser Dan Dll.

Kalibrasi Otomatis, Deteksi Kerusakan Otomatis, Biaya Perawatan & Perbaikan Rendah

Antarmuka Pengoperasian yang Mudah & Ramah, Semua Dikendalikan Oleh Mouse Di Sistem Windows

Jumlah Pesanan Minimum:1

Rincian produk

Deskripsi Produk

A63.7062 Filamen Tungsten Pemindaian Mikroskop Elektron, Eko. SEM
Resolusi	4.5nm@30KV(SE); 6nm @ 30KV (BSE)
Pembesaran	Pembesaran Negatif: 15x~250000x; Pembesaran Layar: 30x~500000x
Senjata Elektron	Kartrid Filamen Tungsten Terpusat Katoda Dipanaskan Tungsten
Mempercepat Tegangan	0~30KV
Sistem Lensa	Lensa Elektromagnetik Tiga Tingkat (Lensa Runcing)
Bukaan Objektif	Sistem Vakum Luar Molibdenum Aperture yang Dapat Disesuaikan
Tahap Spesimen	Panggung Lima Sumbu
Jangkauan Perjalanan	X (Otomatis)	0~50mm
Y (Otomatis)	0~50mm
Z (Manual)	0~25mm
R (Manual)	360
T (Manual)	-5o~90o
Diameter Spesimen Maks	150mm
Detektor	SE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor)
Modifikasi	Peningkatan Panggung; EBL; STM; AFM; Panggung Pemanasan; Panggung Cryo; Panggung Tarik; Manipulator Mikro-nano; SEM + Mesin Pelapis; SEM + Laser
Aksesoris	CCD,LaB6,X-Ray Detector (EDS),EBSD,CL,WDS,Mesin Pelapis
Sistem Vakum	Pompa Molekul Turbo;Pompa Rotasi
Arus Berkas Elektron	10pA~0.1